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深圳市天创美科技有限公司

元素检测仪器,ROHS检测仪,ROHS2.0检测,电镀膜厚检测仪,金属元素检测仪,重金属检测仪,有害元素检测仪,合金成分检测仪,钢铁成分…

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电镀膜厚检测仪 电镀膜厚分析仪 电镀膜厚测试仪 电镀膜厚化验仪 电镀膜厚测定仪 电镀膜厚测量仪 电镀膜厚检测仪器设备机

产品价格180000.00元/台

产品品牌TC

最小起订≥1 台

供货总量999999 台

发货期限自买家付款之日起 10 天内发货

浏览次数770

企业旺铺https://www.qpstq.com/com/lcybyq/

更新日期2021-07-14 09:04

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联系固话:86-1353-4231905

联系地址:中国广东省深圳市宝安区中国 广东 深圳市宝安区 宝安区福永镇

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商品信息

基本参数

品牌:

TC

所在地:

广东 深圳市

起订:

≥1 台

供货总量:

999999 台

有效期至:

长期有效

产地:

中国

产品别名:

电镀膜厚检测仪器设备
详细说明
产地 中国
产品别名 电镀膜厚检测仪器设备
电源电压 220V
适用范围 各种电镀
品牌 其它
型号 光谱
加工定制
电镀电源 220

性能优势

■ 微小样品检测:最小测量面积可到0.008mm2 ■ 变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离

0-90mm

■ 核心EFP算法:Al(13)-U(92)元素的成分分析,Li⑶-U(92)元 素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可准测量

■ 先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限

■ 高性能探测器:大窗口SDD硅漂移探测器

■ 上照式设计:实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效

率测量

大行程移动平台:移动滑台100*150*145mm

、 可编程自动平台210*230*145mm

(接受定制)

 

XAD系列为全元素上照式荧光光谱分析仪,可测量纳米级厚 度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,满足微区RoHS检测及多元 素成分分析,可配备自动平台实现XYZ轴编程位移,实现无人值 守多点测量,测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术解决了诸 多业界难题。

应用领域




涂镀层分析

RoHS环保检测

地质地矿检测

贵金属检测

合金成分分析

全元素分析

  

涂镀层检测


 


 

高集成光路交换系统:

仪器研制的光谱仪独特的光路交换装置,让x射线和可见光摄像同一垂直线, 达到测试不同距离的定位与视觉在同一位置,搭配嵌入集成式多准直孔、滤光片切换 装置,X光扩散度极小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、大小、 凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍, 可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。

行业应用  航空航天 5 G领域  手表行业电子元器件  五金建材汽车零配件水暖卫浴珠宝首饰


自主研发新一代核心算法(EFP)

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计 算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧 光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发 出EFP核心算法,结合光路交换系统、变焦结构设 计及稳定的多道脉冲分析采集系统、强大的解谱技 术,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试各 种材料成分分析、微量元素,超复杂的涂镀层、渗 层以及有机物层的厚度及成分含量。

环保检测解决方案

欧盟 RoHS 指令-2011/65/EU 无卤指令 IEC61249-2-21 REACH扌旨令

玩具En71指令

美国CPSIA消费品安全改进法 China-RoHS国推自愿性认证 IEC62321 标准

GB/T26125-2011

轻松应对

?分析精度高

?测量范围广

?定位超

?测试速度快

?操作特智能

元素与指令对应关系

?标配

O选配

  
 

精度微区RoHS检测




地质地矿

合金分析

贵金属分析

 

 

 


技术参数

型号

项目、

XAD

XAD-200

涂镀层分析

可同时分析23个镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析,可检测Li⑶-U(92)涂镀层90种元素

RoHS分析

有害元素检测(Rohs、卤素) 低检出限可达1 ppm

成分分析

用于地矿、合金及贵金属等物质中AI (13) -U (92)的80种元素成分分析

EFP算法

标配

软件操作

人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

分析时间

1-200秒

探测器

标配Si-Pin半导体探测器,

选配S D D硅漂移大面积2 5 m m 2探测器

标配SDD硅兼大面积25mm2探测器, 选配SDD硅漂移大面积50mm2探测器

/Si-Pin半导体探测器

X射线装置

微聚焦加强型射线管

准直器

Φ0.3mm;

Φ0.2mm;

Φ0.5mm;

□ 0.1 *0.3mm;

四准直器可选,Φ0.3mm为标酉己(也可另外订制) 选配四准直器自动切换(也可另夕卜订制

□ 0.1 *O.3mm/0O.2mm;

00.3/0.5mm;

Φ1.2mm; 05mm/03mm; 四准直器自动切换 (也可另外订制)

光路交换器

高集成,近测距光斑扩散度<10%

滤光片

标配一种滤光片,可选配四种滤光片自由切换

四种滤光片自由切换

测量距离

具有距离补偿功能,可改变测量距离测量凹凸异型样品,变焦距离0-90mm

样品观测

1/2.7"彩色CCD,变焦功能

对焦方式

高敏感镜头,无感自动对焦

放大倍数

光学18-46X,数字放大20-200倍

仪器尺寸

550mm*760mm*635mm

Z轴移动范围

145mm

样品台移动方式

自动XY滑台

全自动高精度XY平台

可移动范围

100mm*1 50mm

210mm*230mm

仪器重量

100KG

120KG

其他附件

电脑一套、喷墨打印机、附件箱、十二元素片、电镀液测量杯(选配)、标准片(选配)

X射线标准

DIN ISO 3497、ASTM B 568 和 DIN 50987

 
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